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[교육] XRD thin film 측정 교육 GID/XRR 안내 (11/24~25) 관리자\|조회수 : 120 등록일 : 2025-11-11
공동기기운영센터 공동기기실에서는 아래와 같이 XRD thin film 측정 (GID, XRR) 교육을 진행하고자 합니다. - GID: 시료에 저각의 입사각을 조사하여 박막 또는 코팅층의 결정 구조, 상(phase) 분석, 결정 방향 등을 측정하는 분석법 - XRR: 시료에서 반사되는 X선을 측정하여 박막의 두께, 밀도, 표면 및 계면 거칠기 등을 측정하는 분석법 ○ 교육 일시 및 내용: * 측정 실습 교육은 4시간 정도 진행될 예정입니다. ○ 사전 신청: 공동기기실 홈페이지(https://smrf.sookmyung.ac.kr) -> 교육신청 -> 정기세미나 신청 ○ 참고 사항: * 이론 교육은 사전 신청없이 현장에서 신청 받습니다. (인원제한 없음) * powder, bulk 시료의 측정은 진행하지 않습니다. * 장비실 공간이 협소하여 측정 실습 교육은 신청 인원에 제한을 두고 있습니다. 접수가 마감된 이후 추가로 교육을 원하시는 분들은 공동기기실로 연락주시기 바랍니다. * 시료를 지참하실 분은 공동기기실로 사전에 연락주시기 바랍니다. 교육과 관련된 문의사항은 공동기기실(02-710-9691 또는 smrf@sm.ac.kr)로 문의해 주시기 바랍니다. 감사합니다.